خدمات آزمایشگاهی آزمایشگاه مرکزی شماره ۲

میکروسکوپ نیروی اتمی

Atomic Force Microscope: AFM

پردازش سریع دانشکده فیزیک

دانشکده فیزیک

پروفایلومتری سطح

توپوگرافی سطح

کندوپاش DC

DC Sputtering

تعیین مقاومت بر حسب دما(دمای اتاق تا 20 کلوین)

Closed cycle refrigerator

میکروسکوپ عبوری

Transmission Microscope

میکروسکوپ بازتابی

Reflection Microscope

میکروسکوپ USB

USB Microscope

لایه نشانی چرخشی

Spin Coating

اندازه گیری زاویه تماس قطره آب بر روی سطح(1)

Contact Angle

اندازه گیری زاویه تماس قطره مایع بر روی سطح(2)

Contact Angle

اندازه گیری زاویه تماس دینامیک

Rolling, advanced, receding -contact angle

لایه نشانی تبخیر فیزیکی

Physical Vapor Deposition:PVD

لایه نشانی کند و پاش

RF Sputtering

کندوپاش DC

DC Sputtering

تعیین امپدانس

LCR Meter

اثر هال- رسانا و نیم رسانا

Hall Effect

لایه نشانی چرخشی

Spin Coating

طیف سنج نوری

شکست سنج آبه

Abbe Refractometer

پراش سنج فرنل

Fresnel Diffractometer

میکروسکوپ تداخلی

Interference Microscope

تداخل سنج دقیق

Precision Interfermeter

قطبش سنج

Polarimeter

چیدمان بس پراکندگی نور

Light Multi-scattering

طیف سنجی نوری

فوتولیتوگرافی

لایه نشانی تبخیرفیزیکی(PVD-ST)

برای لایه نشانی اهداف فلزی

لایه نشانی تبخیر شیمیایی(CVD)

برای لایه نشانی نیمه‌هادی های دی‌اکسید تیتانیوم و اکسید روی

لایه نشانی تبخیر شیمیایی تقویت شده با پلاسما (PECVD)

مشخصه یابی الکتریکی

طیف سنجی امپدانس الکتروشیمیایی EIS

امپدانس الکتروشیمیایی EIS

ولتامتری چرخه ای CV

توان سنج لیزری

مگنتومتر

AMR